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  • BRUKER納米紅外光譜與成像系統nanolR3-S
    BRUKER納米紅外光譜與成像系統nanolR3-S
    BRUKER納米紅外光譜與成像系統nanolR3-S 原子力顯微鏡（AFM）的納米紅外光譜（AFM-IR）是一種將AFM的高空間分辨率與紅外光譜的化學分析能力相結合的新技術。該技術通過使用原子力顯微鏡的針尖來局部檢測樣品因紅外輻射的局部吸收而產生的熱膨脹信號，突破了傳統紅外顯微光譜由于光衍射而引起的空間分辨率限制，可實現優于10nm空間分辨，單分子層靈敏度的納米紅外光譜和紅外成像。
    更新時間：2026-02-03    訪問量：149    型號：
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  • 德國BRUKER納米紅外光譜與成像系統nanolR3
    德國BRUKER納米紅外光譜與成像系統nanolR3
    德國BRUKER納米紅外光譜與成像系統nanolR3 原子力顯微鏡（AFM）的納米紅外光譜（AFM-IR）是一種將AFM的高空間分辨率與紅外光譜的化學分析能力相結合的新技術。該技術通過使用原子力顯微鏡的針尖來局部檢測樣品因紅外輻射的局部吸收而產生的熱膨脹信號，突破了傳統紅外顯微光譜由于光衍射而引起的空間分辨率限制，可實現優于10nm空間分辨，單分子層靈敏度的納米紅外光譜和紅外成像。
    更新時間：2026-02-02    訪問量：177    型號：
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  • IconIR/IconIR300德國BRUKER納米紅外光譜與成像系統
    IconIR/IconIR300德國BRUKER納米紅外光譜與成像系統
    德國BRUKER納米紅外光譜與成像系統 原子力顯微鏡（AFM）的納米紅外光譜（AFM-IR）是一種將AFM的高空間分辨率與紅外光譜的化學分析能力相結合的新技術。該技術通過使用原子力顯微鏡的針尖來局部檢測樣品因紅外輻射的局部吸收而產生的熱膨脹信號，突破了傳統紅外顯微光譜由于光衍射而引起的空間分辨率限制，可實現優于10nm空間分辨，單分子層靈敏度的納米紅外光譜和紅外成像。
    更新時間：2026-01-21    訪問量：182    型號：IconIR/IconIR300
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  • Dimension Icon德國BRUKER原子力顯微鏡中國代理商
    Dimension Icon德國BRUKER原子力顯微鏡中國代理商
    德國BRUKER原子力顯微鏡中國代理商： 原子力顯微鏡(Atomic Force Microsco）作為先進材料研究的重要手段,廣泛應用于多個學科和應用領域,推動了眾多科學發現。布魯克AFM產品線一直引*著AFM能力的進一步擴展。自20世紀80年代推出首*商用系統以來，始終處于行業前沿。隨著技術不斷成熟，布魯克的AFM系統始終提供高度可靠的高分辨率數據，并賦能科學家對日益復雜的樣品進行多種性質分析
    更新時間：2026-01-21    訪問量：192    型號：Dimension Icon
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  • 德國BRUKER納米力學測試系統中國代理商
    德國BRUKER納米力學測試系統中國代理商
    德國BRUKER納米力學測試系統中國代理商： 該產品具有超凡的性能、精度、可靠性和通用性，可實現納米級和微米級定量力學和摩擦學表征。Hysitron產品線**的納米力學測試系統采用多種**技術，能夠在其他系統無法達到的尺度上實現定量表征。
    更新時間：2026-01-26    訪問量：208    型號：
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  • ContourX-100德國BRUKER白光干涉儀
    ContourX-100德國BRUKER白光干涉儀
    德國BRUKER白光干涉儀ContourX-100：具備性價比的ContourX-100光學輪廓儀為精確的、可重復的、非接觸式表面測量樹立了新基準。占地面積小，融合了布魯克幾十年的專*白光干涉（WLI）創新技術，具有強大的二維/三維高分辨測量能力。
    更新時間：2026-01-26    訪問量：271    型號：ContourX-100
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